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HIOKI 日置 LCR测试仪测量频率40Hz - 200kHz的LCR测试仪应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
型号:IM3523
浏览量:210
更新日期:2023-06-27
在线留言品牌 | HIOKI/日本日置 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 综合 |
HIOKI 日置 LCR测试仪
测量频率40Hz - 200kHz的LCR测试仪
●基本精度±0.05%,测呈范围广( DC ,40Hz~200kHz,5mV~5V,10uA~50mA)
●在比比如 C - D 和 ESR 这样的混合测呈条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试
●内置比较器和 BIN 功能
●2ms的快速测试时间
本产品不标配测虽探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测呈探头和测试夹具
所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆, RS -232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆
您可使用 RS -232C电缆9637,不需要硬件控制器
LCR 测试仪IM3523测量方法:连续测量不同条件
在电容的测量条件中希望以120Hz测量 C-D 。希望以100kHz测量 ESR 。这时,使用1台告诉连续测量不同条件。
LCR 测试仪IM3523测量方法:顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能
为了使用1台 LCR 测试仪测量多种产品,要求高效率的更改设置。
IM3523的面板保存功能更,最多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
可靠的产线检查:接触检查功能
检查4端子测量时样品间的接触不良。
测量 LPOT - LCUR 间和 HPOT - HCUR 间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。
2MHz阻抗的4ch测量方案
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。
基本参数