HIOKI 日置 LCR测试仪

HIOKI 日置 LCR测试仪

测量频率40Hz - 200kHz的LCR测试仪

●基本精度±0.05%，测呈范围广（ DC ,40Hz~200kHz,5mV~5V,10uA~50mA)

●在比比如 C - D 和 ESR 这样的混合测呈条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试

●内置比较器和 BIN 功能

●2ms的快速测试时间

本产品不标配测虽探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测呈探头和测试夹具

所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆， RS -232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆

您可使用 RS -232C电缆9637，不需要硬件控制器

LCR 测试仪IM3523测量方法：连续测量不同条件

在电容的测量条件中希望以120Hz测量 C-D 。希望以100kHz测量 ESR 。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。

LCR 测试仪IM3523测量方法：顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能

为了使用1台 LCR 测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。

IM3523的面板保存功能更，最多保存60组测量条件，还能保存128个开路／短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

可靠的产线检查：接触检查功能

检查4端子测量时样品间的接触不良。

测量 LPOT - LCUR 间和 HPOT - HCUR 间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

2MHz阻抗的4ch测量方案

精度计算软件

仅需输入数值即可轻松计算精度。

基本参数