HIOKI 日置 阻抗分析仪

阻抗分析仪IM7580A

最快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小

●测呈频率1MHz~300MHz

●测量时间：最快0.5ms

●基本精度±0.72%rdg.

●测量方式： RF I - V 法

●紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小

●丰富的接触检查功能（ DCR 测量、 Hi - Z 筛选、波形判定）

●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具

需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具

阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能

能够以测星结果为基础推测5种等效电路模式的常数。而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：使用 SMD 治具IM9201进行 LCR 测量

IM7580系列5种机型的测星频率覆盖了1MHzー3GHz。

和用于6种尺寸 SMD 的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。"区域判定功能"是设置上限值和下限值的范围，并以 IN / NG 来显示判定结果。

阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。"峰值判定功能"是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以 IN / NG 来显示测量的峰值是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列： SPOT 判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。" SPOT 判定功能"是选择任意的扫描点和参数，最多进行16点的判定。

阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能

使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。适用于判定样品是否合格的功能。

阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能

使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。

阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。

稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N . m )。请注意不要拧过头。

精度计算软件

仅需输入数值即可轻松计算精度。

基本参数