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HIOKI 日置 阻抗分析仪

简要描述:

阻抗分析仪IM7580A
最快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小
测量频率1MHz~300MHz 测量时间:最快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 主机大小仅机架一半 丰富的接触检查功能

型号:IM7580A

浏览量:217

更新日期:2023-06-27

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HIOKI 日置 阻抗分析仪
品牌HIOKI/日本日置应用领域综合

阻抗分析仪IM7580A

最快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小


●测呈频率1MHz~300MHz

●测量时间:最快0.5ms

●基本精度±0.72%rdg.

测量方式: RF I - V 法

紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小

丰富的接触检查功能( DCR 测量、 Hi - Z 筛选、波形判定)

使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具

需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具


阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能

能够以测星结果为基础推测5种等效电路模式的常数。而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。


阻抗分析仪IM7580系列:使用 SMD 治具IM9201进行 LCR 测量

IM7580系列5种机型的测星频率覆盖了1MHzー3GHz。

和用于6种尺寸 SMD 的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。


阻抗分析仪IM7580系列:区域判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。"区域判定功能"是设置上限值和下限值的范围,并以 IN / NG 来显示判定结果。


阻抗分析仪IM7580系列:峰值判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。"峰值判定功能"是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以 IN / NG 来显示测量的峰值是否在判定区域内。


阻抗分析仪IM7580系列: SPOT 判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。" SPOT 判定功能"是选择任意的扫描点和参数,最多进行16点的判定。


阻抗分析仪IM7580系列:比较器功能

使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。适用于判定样品是否合格的功能。


阻抗分析仪IM7580系列:接触检查功能

使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。


阻抗分析仪IM7580系列:测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。

稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N . m )。请注意不要拧过头。


精度计算软件

仅需输入数值即可轻松计算精度。


精度计算.gif


基本参数


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