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阻抗分析仪IM7587可信赖的机型3GHz|Z|, L, C, R等 测量频率:1MHz~3GHz 测量时间:0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量
型号:IM7587
浏览量:46
更新日期:2023-03-24
在线留言品牌 | HIOKI/日本日置 | 应用领域 | 综合 |
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阻抗分析仪IM7587
可信赖的机型3GHz
●测试电压测星频率:1MHz~3GHz
●测星时间:最快0.5ms(模拟测量时间)
●测量值偏差:0.07%(用3GHz测量线圈1nH时)
●基本精度:±0.65% rdg .
●测量方式: RF I - V 法
●紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
●丰富的接触检查( DCR 测量、 Hi - Z 筛选、波形判定)
●分析模式下可以边扫描测星频率、测星信号电平边进行测量
主机不带测试治具。、
需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具
阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列:使用 SMD 治具IM9201进行 LCR 测量
IM7580系列5种机型的测星频率覆盖了1MHz一3GHz。
和用于6种尺寸 SMD 的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列:区域判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测星值是否进入了任意设置的判定区域内。"区域判定功能"是设置上限值和下限值的范围,并以 IN / NG 来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列:峰值判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。"峰值判定功能"是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以 IN / NG 来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列: SPOT 判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。" SPOT 判定功能"是选择任意的扫描点和参数,最多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列:比较器功能
使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列:接触检查功能
使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列:测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N . m )。
请注意不要拧过头。
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。
Multi - plot
该软件能利用既定模型解析电池阻抗数据的等效回路。擅长解析 Li - lon 电池,特别是数十 m Ω的阻抗数据。该 Web 软件可将数个阻抗数据同时绘制在 Nyquist ( Cole - Cole )或 Bode plot 上。
基本参数